盖之测量技术（上海）有限公司
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测头系统

PROBE SYSTEM

  • 测头名称：HP-S-X1
  • 所属分类：接触式扫描测头
  • 测头类型：接触扫描
  • 作用描述：多功能扫描测头
  • 精度指标：0.2µm
  • 应用领域： 复杂曲面 精密零件 模具检测
技术规格

支持单点触发/高速扫描模式

产品介绍

高精度多功能测头，可在单点触发和高速扫描模式间无缝切换，采用先进的动态补偿技术和温度稳定性设计，确保在各种测量条件下保持稳定精度。

典型应用

• 复杂曲面
• 精密零件
• 模具检测

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