盖之测量技术（上海）有限公司
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测头系统

PROBE SYSTEM

  • 测头名称：TP200
  • 所属分类：触发式测头
  • 测头类型：触发式
  • 作用描述：超低触发力测头
  • 精度指标：0.10 µm
  • 应用领域： 精密零件 微小特征 软质材料
技术规格

重复性: 0.10 µm, 触发力: 0.006-0.012 N, 测量范围: ±0.5 mm

产品介绍

雷尼绍TP200超低触发力测头，采用应变片技术，最小触发力仅0.006N，适用于微小特征、软质材料和精密零件的测量，有效避免工件变形和测力误差。

典型应用

• 精密零件
• 微小特征
• 软质材料

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