盖之测量技术（上海）有限公司
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测头系统

PROBE SYSTEM

  • 测头名称：LS2
  • 所属分类：自研接触式扫描测头
  • 测头类型：接触扫描
  • 作用描述：动态跟踪，支持大范围自由曲面扫描
  • 精度指标：0.2µm
  • 应用领域： 大型工件 自由曲面 汽车覆盖件
技术规格

扫描精度 (U3) : 0.2 µm

产品介绍

动态跟踪扫描测头，集成实时位置追踪算法和抗干扰技术，可在大型工件表面实现连续扫描，支持大范围自由曲面的高精度测量任务。

典型应用

• 大型工件
• 自由曲面
• 汽车覆盖件

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