盖之测量技术（上海）有限公司
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测头系统

PROBE SYSTEM

  • 测头名称：LX1S-T
  • 所属分类：自研接触式扫描测头
  • 测头类型：接触扫描
  • 作用描述：高速扫描，适用于TESA测座
  • 精度指标：0.2µm
  • 应用领域： 汽车模具 航空航天 精密零件
技术规格

扫描精度 (U3) : 0.2 µm

产品介绍

自主研发的高速扫描测头，采用先进的光学编码器和动态补偿技术，能够在高速运动状态下保持稳定的测量精度，特别适合汽车模具、航空航天等领域的复杂曲面精密测量。

典型应用

• 汽车模具
• 航空航天
• 精密零件

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