盖之测量技术（上海）有限公司
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测头系统

PROBE SYSTEM

  • 测头名称：TESASTAR
  • 所属分类：自动测座
  • 测头类型：自动测座
  • 作用描述：全自动模块化测座系统
  • 精度指标：0.35 µm
  • 应用领域： 高精度测量 多探头系统 精密工程
技术规格

重复定位精度: 0.35 µm, 分度精度: ±1 arcsec, 最大负载: 0.8 kg

产品介绍

蔡司TESASTAR全自动模块化测座系统，采用先进的伺服控制技术，支持多角度探针自动切换和识别。集成温度补偿系统，确保长期稳定性。

典型应用

• 高精度测量
• 多探头系统
• 精密工程

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