盖之测量技术（上海）有限公司
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测头系统

PROBE SYSTEM

  • 测头名称：RSP-S2
  • 所属分类：接触式扫描测头
  • 测头类型：接触扫描
  • 作用描述：高精度扫描测头
  • 精度指标：0.18µm
  • 应用领域： 薄壁零件 精密电子 医疗器械
技术规格

LVDT技术，低测力

产品介绍

采用LVDT技术的模拟扫描测头，具有极低的测量力和优异的重复性，支持触发和扫描两种工作模式，特别适合测量薄壁件和易变形工件。

典型应用

• 薄壁零件
• 精密电子
• 医疗器械

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